PCT試驗(yàn)即Pressure Cooker Test，中文直譯是“高壓鍋試驗(yàn)”也稱高壓蒸煮老化試驗(yàn)、高壓加速老化試驗(yàn)、加速壽命老化試驗(yàn)等。是一種通過模擬高溫、高濕、高壓環(huán)境，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行加速老化測(cè)試，評(píng)估其可靠性、耐久性及密封性能的測(cè)試方法。通過PCT試驗(yàn)，可以快速檢測(cè)產(chǎn)品在惡劣條件下的密封性能、耐久性能和使用壽命。PCT試驗(yàn)主要應(yīng)用于IC封裝、半導(dǎo)體，微電子芯片、磁性材料、塑膠、線路板等領(lǐng)域，可檢測(cè)產(chǎn)品耐溫濕度性能、評(píng)估材料老化特性、助力新產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)量控制與認(rèn)證。應(yīng)用到的設(shè)備是PCT試驗(yàn)箱，也有企業(yè)為節(jié)約成本使用高壓鍋蒸煮。PCT試驗(yàn)與HAST試驗(yàn)失效機(jī)理相同，兩者的差異是HAST試驗(yàn)箱可以控制濕度，而PCT試驗(yàn)箱只能設(shè)定濕度為飽和濕度即100%R.H。所以PCT試驗(yàn)又稱為飽和蒸汽試驗(yàn)。本文主要介紹常見的PCT試驗(yàn)參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)也為PCB、半導(dǎo)體、汽車零部件、航空航天等行業(yè)以及需要進(jìn)行新材料、新技術(shù)研究的科研院校在選購PCT試驗(yàn)箱時(shí)，提供參考。

試驗(yàn)設(shè)備

PCT試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)：

PCT 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

飽和蒸氣試驗(yàn)主要參考IEC60068-2-66,MIL-STD-810G Method507,GB/T 2423.40，JESD22-A102等標(biāo)準(zhǔn)。美國軍方的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)介紹的比較詳細(xì)，可以作為參考書來使用，因?yàn)槊儡姌?biāo)的推薦值是為**產(chǎn)品準(zhǔn)備的，相對(duì)來講應(yīng)用到消費(fèi)電子產(chǎn)品就比較嚴(yán)苛，所以一般參考的是 IEC標(biāo)準(zhǔn)。而 GB/T 主要是參考IEC進(jìn)行編撰，如果英語無法完全理解的可以參考國家推薦標(biāo)準(zhǔn)，否則建議以IEC原版標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

國際標(biāo)準(zhǔn)

1. IEC 60068-2-66“Environmental testing – Part 2-66: Test Cx: Damp heat, steady state (unsaturated pressurized vapour) ” 

該標(biāo)準(zhǔn)主要用于評(píng)估非密封電子元件在濕熱環(huán)境中的可靠性是PCT 試驗(yàn)要求重要參考標(biāo)準(zhǔn)。

2. JESD22-A102E Accelerated Moisture Resistance -Unbiased Autoclave

 該規(guī)定了壓應(yīng)力測(cè)試(PCT，即壓力蒸氣測(cè)試)的相關(guān)要求，為制造商和測(cè)試實(shí)驗(yàn)室提供了一個(gè)評(píng)估產(chǎn)品可靠性的統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)。

3. IEC 60068-2-30:2014“Environmental testing - Part 2-30: Test methods - Test Ga: Damp heat (high temperature and high humidity)”  

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高溫高濕試驗(yàn)的方法，可作為 PCT 試驗(yàn)箱高溫高濕試驗(yàn)的參考。

部分國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)

1. GB/T 10586-2006《高壓加速老化試驗(yàn)方法》  

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高壓加速老化試驗(yàn)的試驗(yàn)方法、試驗(yàn)設(shè)備、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)程序以及試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定等。

2. GB/T 2423.50-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱》  

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一種以加速方式評(píng)定小型電工電子產(chǎn)品(主要是非氣密元件)耐濕熱劣化效應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法，可作為 PCT 試驗(yàn)箱溫度穩(wěn)定試驗(yàn)的參考。

以上標(biāo)準(zhǔn)均為我國相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)規(guī)范，對(duì)于選購 PCT 試驗(yàn)箱以及進(jìn)行相關(guān)試驗(yàn)具有重要的參考價(jià)值。在選購試驗(yàn)箱時(shí)，還需結(jié)合自身需求，考慮試驗(yàn)箱的性能、尺寸、溫度控制精度、安全性能等因素。

PCT試驗(yàn)條件

在選購 PCT 試驗(yàn)箱時(shí)，可以參考以上標(biāo)準(zhǔn)，結(jié)合自身需求和產(chǎn)品特點(diǎn)，確保試驗(yàn)箱的性能和試驗(yàn)方法符合相關(guān)要求。同時(shí)，還需關(guān)注試驗(yàn)箱的制造商是否與上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備公司一樣具備相關(guān)質(zhì)量體系認(rèn)證，例如 ISO 9001 等，并擁有自己的生產(chǎn)及售后團(tuán)隊(duì)，確保試驗(yàn)箱的品質(zhì)和售后服務(wù)。如需要了解更多有關(guān)PCT試驗(yàn)的知識(shí)可聯(lián)系上海柏毅18017970031獲取相關(guān)資料。